DATA PLATFORM GL7000 電子基板のひずみ測定の紹介 !
アンプユニットを連結することで、目的に合わせた様々な測定ができます。

■ 電子基板を製品に実装する時に、主要部品にかかるひずみ量を測定したい !
■ 割基板等を分割する際にかかるひずみ量を測定したい !
■ 加振器で加振させ、コネクターやケーブルのひずみや振動を測定したい !
　 同時に電圧も測定したい等

DATA PLATFORM GL7000 の動画紹介、動画はループ再生されます。

　アンプユニットの紹介
　 ひずみユニット（GL7-DCB）の詳細は こちら をご覧ください。

　 電圧ユニット（GL7-V）の詳細は こちら をご覧ください。

　 電圧/温度ユニット（GL7-M）の詳細は こちら をご覧ください。

　 高速電圧ユニット（GL7-HSV）の詳細は こちら をご覧ください。

　 高電圧ユニット（GL7-HV）の詳細は こちら をご覧ください。

　 加速度ユニット（GL7-CHA）の詳細は こちら をご覧ください。

　 アナログ電圧出力ユニット （GL7-DCO）の詳細は こちら をご覧ください。

　 ロジック/パルスユニット （GL7-L/P）の詳細は こちら をご覧ください。

　DATA PLATFORM GL7000 の詳細は こちら をご覧ください。

メーカー名

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